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Medientyp: E-Artikel Titel: Atomic contact potential variations of Si(111)-7 × 7 analyzed by Kelvin probe force microscopy Beteiligte: Kawai, Shigeki; Glatzel, Thilo; Hug, Hans-Josef; Meyer, Ernst Erschienen: IOP Publishing, 2010 Erschienen in: Nanotechnology Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1088/0957-4484/21/24/245704 ISSN: 1361-6528; 0957-4484 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Mechanical Engineering ; Mechanics of Materials ; General Materials Science ; General Chemistry ; Bioengineering Entstehung: Anmerkungen: