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Medientyp: E-Artikel Titel: Integrated Circuit Design: Degradation Delay Model Extension to CMOS Gates Beteiligte: Juan-Chico, Jorge; Bellido, Manuel J.; Ruiz-de-Clavijo, Paulino; Acosta, Antonio J.; Valencia, Manuel Erschienen: Springer Berlin Heidelberg, 2000 Erschienen in: Integrated Circuit Design Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1007/3-540-45373-3_15 ISSN: 0302-9743 Entstehung: Anmerkungen: