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Medientyp: E-Artikel Titel: Non-destructive depth profile analysis using synchrotron radiation excited XPS Beteiligte: Zier, Michael; Oswald, Steffen; Reiche, Rainer; Wetzig, Klaus Erschienen: Springer Science and Business Media LLC, 2006 Erschienen in: Microchimica Acta Sprache: Englisch DOI: 10.1007/s00604-006-0615-9 ISSN: 1436-5073; 0026-3672 Entstehung: Anmerkungen: