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Medientyp: E-Artikel Titel: Applications of finite element methods for reliability study of ULSI interconnections Beteiligte: Tan, Cher Ming; Li, Wei; Gan, Zhenghao Erschienen: Elsevier BV, 2012 Erschienen in: Microelectronics Reliability Sprache: Englisch DOI: 10.1016/j.microrel.2011.09.015 ISSN: 0026-2714 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Surfaces, Coatings and Films ; Safety, Risk, Reliability and Quality ; Condensed Matter Physics ; Atomic and Molecular Physics, and Optics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: