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Medientyp: E-Artikel Titel: A time to failure evaluation of AlGaN/GaN HEMT transistors for RF applications Beteiligte: Latry, Olivier; Moultif, Niemat; Joubert, Eric; Ndiaye, Mohamed Erschienen: Elsevier BV, 2022 Erschienen in: e-Prime - Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy Sprache: Englisch DOI: 10.1016/j.prime.2022.100062 ISSN: 2772-6711 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; General Engineering ; Energy Engineering and Power Technology Entstehung: Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang