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Medientyp: E-Artikel Titel: Analysis and Comparison of High-Resolution GS/s Samplers in Advanced BiCMOS and CMOS Beteiligte: Lal, Deeksha; Ali, Ahmed M. A.; Ricketts, David S. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018 Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tcsii.2018.2822785 ISSN: 1558-3791; 1549-7747 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering Entstehung: Anmerkungen: