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Medientyp: E-Artikel Titel: Reliability Comparison of ZrO2-Based DRAM High-k Dielectrics Under DC and AC Stress Beteiligte: Knebel, Steve; Zhou, Dayu; Schroeder, Uwe; Slesazeck, Stefan; Pesic, Milan; Agaiby, Rimoon; Heitmann, Johannes; Mikolajick, Thomas Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017 Erschienen in: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tdmr.2017.2699287 ISSN: 1558-2574; 1530-4388 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Safety, Risk, Reliability and Quality ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: