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Medientyp: E-Artikel Titel: Substrate Noise Coupling Mechanisms in Lightly Doped CMOS Transistors Beteiligte: Bronckers, Stephane; Van der Plas, Geert; Vandersteen, Gerd; Rolain, Yves Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tim.2009.2024370 ISSN: 0018-9456; 1557-9662 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation Entstehung: Anmerkungen: