> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: An Unsupervised Bayesian OC-SVM Approach for Early Degradation Detection, Thresholding, and Fault Prediction in Machinery Monitoring Beteiligte: Fong, Stanley; Narasimhan, Sriram Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 71 (2022), Seite 1-11 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tim.2021.3137858 ISSN: 0018-9456; 1557-9662 Entstehung: Anmerkungen: