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Medientyp: E-Artikel Titel: Analysis of Bipolar Integrated Circuit Degradation Mechanisms Against Combined TID–DD Effects Beteiligte: Ferraro, Rudy; Alia, Ruben Garcia; Danzeca, Salvatore; Masi, Alessandro Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2021 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2021.3082646 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Nuclear Energy and Engineering ; Nuclear and High Energy Physics Entstehung: Anmerkungen: