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Medientyp: E-Artikel Titel: Interconnection lengths and VLSI Beteiligte: Ferry, David K. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1985 Erschienen in: IEEE Circuits and Devices Magazine, 1 (1985) 4, Seite 39-42 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/mcd.1985.6311992 ISSN: 8755-3996 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: