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Medientyp: E-Artikel Titel: Measurement of material surface defect intensity by distributed cumulative histogram and clustering Beteiligte: Melnyk, Roman; Kvit, Roman Erschienen: Private Company Technology Center, 2020 Erschienen in: Technology audit and production reserves, 4 (2020) 2(54), Seite 36-45 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.15587/2706-5448.2020.210151 ISSN: 2706-5448; 2664-9969 Schlagwörter: General Computer Science Entstehung: Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang