• Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Nanopositionierungen - die Basis der Nanometrologie (Nano Positioning Devices – The Basis of Nano-Metrology)
  • Beteiligte: Wilkening, Günter
  • Erschienen: Walter de Gruyter GmbH, 2000
  • Erschienen in: tm - Technisches Messen
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.1524/teme.2000.67.7-8.298
  • ISSN: 2196-7113; 0171-8096
  • Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation
  • Entstehung:
  • Anmerkungen:
  • Beschreibung: <jats:title>Abstract</jats:title> <jats:p>Nanopositionierungen sind wesentliche Hilfsmittel für die Nanotechnologie, insbesondere auch für die Nanometrologie. Einsatzgebiete für die Positionierungen sind nicht nur auf Verschiebewege im μm-Bereich beschränkt, sondern umfassen auch den Bereich bis über 100 mm hinaus. Es sind eine Reihe verschiedener Verschiebemethoden für die 2D-Positionierung in der Literatur beschrieben worden und z.T. auch kommerziell erhältlich. Ebenso sind adäquate Messmethoden realisiert worden.</jats:p> <jats:p>In der vorliegenden Übersicht sind verschiedene relevante Verschiebe- und Messmethoden tabellarisch zusammengefasst worden. Drei Beispiele von Positionierungen werden detaillierter erläutert, bei denen sehr unterschiedliche Konzepte realisiert wurden. </jats:p>