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Medientyp: E-Artikel Titel: Time Division Multiplexing based Test Access for Stacked ICs Beteiligte: Ansari, Muhammad Adil; Solnagi, Umair Saeed; Kim, Jinuk; Bughio, Ahsin Murtaza; Park, Sungju Erschienen: The Institute of Electronics Engineers of Korea, 2019 Erschienen in: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Sprache: Englisch DOI: 10.5573/jsts.2019.19.1.087 ISSN: 1598-1657; 2233-4866 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang