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Auth, Elisabeth [VerfasserIn]

Automatische Testmustergenerierung in synchronen sequentiellen Schaltungen - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1992

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 20 ; 6500
Kunz, Wolfgang [VerfasserIn]

Rekursives Lernen : eine präzise Implikationsprozedur und ihre Anwendung auf die Testmustergenerierung in digitalen Schaltungen

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1992
Kunzmann, Arno [VerfasserIn]

Test synchroner Schaltwerke auf der Basis partieller Prüfpfade - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1989

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 117
Schäfer, Manfred [VerfasserIn]

Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1989

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 38
Wahl, Michael [VerfasserIn]

Testmustererzeugung für digitale Schaltungen mit gesteuerten Zählern

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1988

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 87
Plesser, Volkmar [VerfasserIn]

Automatische Herleitung von effektiven Testsequenzen aus LOTOS-Spezifikationen mittels Fehlermodellen - [Als Ms. gedr.]

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Aachen: Shaker, 1996

Erschienen in: Berichte aus der Informatik
Dahmen, Hans-Christoph [VerfasserIn] ; GMD-Forschungszentrum Informationstechnik

Ein paralleles Verfahren zur automatischen Testmustergenerierung für integrierte Schaltungen

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Sankt Augustin: GMD-Forschungszentrum Informationstechnik, 1996

Erschienen in: GMD-Forschungszentrum Informationstechnik: GMD-Studien ; 308
Jacomet, Marcel [VerfasserIn]

Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen - [1. Aufl.]

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Konstanz: Hartung-Gorre, 1991

Erschienen in: Series in microelectronics ; 8
Groß, Josef [VerfasserIn]

Zur on-chip Testmustergenerierung für den Elektronenstrahltest - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verlag, 1993

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 162
Tafertshofer, Paul [VerfasserIn]; Antreich, Kurt [VerfasserIn]

A short history of ATPG technology

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München: TUM, LEA, 1999
Kropf, Thomas [VerfasserIn]

Ein einheitlicher Ansatz zur Verifikation und Testerzeugung für digitale Schaltungen mit temporaler Logik - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1993

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 174
Meyer, Wolfgang [VerfasserIn]

Hierarchische Mehr-Ebenen-Fehlersimulation mit Modellen der Schalter-Ebene

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München [u.a.]: Oldenbourg, 1994

Erschienen in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung ; 240
Hübner, Uwe [VerfasserIn]

Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung

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München; Wien: Oldenbourg, 1994

Erschienen in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung ; 226
Hinsen, Heike [VerfasserIn]

Automatische Testgenerierung für CMOS-Fehler durch Modifikation des FAN-Algorithmus

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Sankt Augustin: Ges. f. Mathematik u. Datenverarbeitung, 1991

Erschienen in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 19400
Hunger, Axel [HerausgeberIn]

Ermittlung des Standes und der voraussichtlichen Entwicklung bei Werkzeugen und Programmen zur automatischen Testerzeugung

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Sankt Augustin: GMD, 1992

Erschienen in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 21300
Frei, Matthias [VerfasserIn]

Eine Entwicklungsumgebung zur Automatisierung von Verfahren zur Generierung von Testhilfen in digitalen integrierten Schaltungen

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1990
Daehn, Wilfried [VerfasserIn]

Deterministische Testmustergeneratoren für den Selbsttest von integrierten Digitalschaltungen

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1983
Eggersglüß, Stephan [VerfasserIn]; Fey, Görschwin [VerfasserIn]; Polian, Ilia [VerfasserIn]

Test digitaler Schaltkreise

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München: De Gruyter Oldenbourg, 2014

Erschienen in: Studium
Hasan, Shehzad [VerfasserIn]

Test set compaction and diagnosis of crosstalk faults

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Aachen: Shaker, 2010

Erschienen in: Berichte aus der Elektrotechnik
Kormann, Benjamin [VerfasserIn] ; Siemers, Christian [AkademischeR BetreuerIn]; Rausch, Andreas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schiller, Frank [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Technische Universität Clausthal

Automatische Testdatengenerierung zur Absicherung fehlerbehafteter reaktiver Automatisierungssysteme - [1. Auflage]

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Clausthal-Zellerfeld: Papierflieger Verlag GmbH, 2016

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