Lloyd, James R.
[HerausgeberIn];
Yost, Frederick G.
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Ho, Paul S.
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
;
Materials Research Society,
Symposium on Materials Reliability Issues in Microelectronics 1 1991 Anaheim, Calif
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Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society, 19XX-
Erschienen in:Materials Research Society symposium proceedings ; .
Sattler, Sebastian
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
;
Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik,
Informationstechnische Gesellschaft,
Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2008 Ingolstadt
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Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 1997
Erschienen in:The electronic packaging series
Dietrich, Manfred
[HerausgeberIn]
;
Informationstechnische Gesellschaft,
Informationstechnische Gesellschaft,
Gesellschaft für Informatik,
Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik,
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2013 Dresden
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San Diego [u.a.]: Acad. Press, 2004
Dietrich, Manfred
[HerausgeberIn]
;
Informationstechnische Gesellschaft,
Informationstechnische Gesellschaft,
Gesellschaft für Informatik,
Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik,
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2013 Dresden