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  5. Băjenescu, Titu I. [VerfasserIn]; Bâzu, Marius I. [VerfasserIn] ; Băjenescu, Titu-Marius I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Component reliability for electronic systems

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    Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010

  6. Vashchenko, Vladislav A. [VerfasserIn]; Shibkov, Andrei [VerfasserIn]

    ESD design for analog circuits

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    New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2010

  9. Fleetwood, Daniel M. [VerfasserIn] ; Pantelides, Sokrates T. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schrimpf, Ronald D. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Pantelides, Sokrates [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schrimpf, Ronald Donald [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Defects in microelectronic materials and devices

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    Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 2009

  11. Groeseneken, G. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; ESREF 19 2008 Maastricht

    Proceedings of the 19th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis : ESREF 2008; 29th september - 2nd october 2008, Maastricht, The Netherlands; [author index]

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    Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 2009

    Erschienen in: Microelectronics reliability ; 48,8/9

  14. Sattler, Sebastian [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik, Informationstechnische Gesellschaft, Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2008 Ingolstadt

    Zuverlässigkeit und Entwurf : 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt

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    Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2008

    Erschienen in: Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik: GMM-Fachbericht ; 57

  16. Kaiser, Kenneth L. [VerfasserIn]

    Electrostatic discharge

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    Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press/Taylor & Francis, 2006

  17. Voldman, Steven H. [VerfasserIn]

    ESD : RF technology and circuits

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    Chicester [u.a.]: Wiley, 2006

  20. Kaiser, Kenneth L. [VerfasserIn]

    Electrostatic discharge

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    Boca Raton, Fla.: CRC, 2005 ; London: Taylor & Francis, 2005