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  1. Adam, M. [Mitwirkende:r]; Ageev, V.P [Mitwirkende:r]; Albrecht, O. [Mitwirkende:r]; Aleksandrov, L .N [Mitwirkende:r]; Aleksandrov, L.N [Mitwirkende:r]; Aleksaridrov, L .N [Mitwirkende:r]; Andoh, Yasunori [Mitwirkende:r]; Andra, W [Mitwirkende:r]; Andrä, G [Mitwirkende:r]; Andrä, G. [Mitwirkende:r]; Andrä, H. [Mitwirkende:r]; Andrä, W [Mitwirkende:r]; Andrä, W. [Mitwirkende:r]; Armigliato, A. [Mitwirkende:r]; Bachmann, T. [Mitwirkende:r]; Baither, D. [Mitwirkende:r]; Balandin, V .Yu [Mitwirkende:r]; Balandin, V.Yu [Mitwirkende:r]; Bali, K. [Mitwirkende:r]; Banisch, R [Mitwirkende:r]; Banisch, R. [Mitwirkende:r]; Barbier, D. [Mitwirkende:r]; Barna, P. [Mitwirkende:r]; Bartsch, H. [Mitwirkende:r]; [...]

    EPM 87. Energy Pulse and Particle Beam Modification of Materials : International Conference held September 7—11, 1987 Dresden, G.D.R - [Reprint 2022]

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    Berlin; Boston: De Gruyter, [2022]

    Erschienen in: Physical Research ; 8

  2. Ageev, V [Mitwirkende:r]; Akchulakov, M. T [Mitwirkende:r]; Albert, M [Mitwirkende:r]; Albrecht, J [Mitwirkende:r]; Aleksandrov, L. N [Mitwirkende:r]; Aleshin, A. N [Mitwirkende:r]; Aliev, V. Sh [Mitwirkende:r]; Antropov, A. lf [Mitwirkende:r]; Arbuzov, V. Y [Mitwirkende:r]; Artsimovich, M. V [Mitwirkende:r]; Ascheron, C [Mitwirkende:r]; Bachmann, T [Mitwirkende:r]; Baghaev, V. N [Mitwirkende:r]; Baither, D [Mitwirkende:r]; Bakaj, A. S [Mitwirkende:r]; Balandin, V. Iu [Mitwirkende:r]; Baljtjba, V. I [Mitwirkende:r]; Baltramiejünas, R [Mitwirkende:r]; Bandurin, Yu. A [Mitwirkende:r]; Banisch, R [Mitwirkende:r]; Barabanenkov, M. Y [Mitwirkende:r]; Baranov, A. N [Mitwirkende:r]; Bartl, Rolf-Reiner [Mitwirkende:r]; Bartsch, H [Mitwirkende:r]; [...]

    EPM '89: 3rd International Conference on Energy Pulse and Particle Beam Modification of Materials, September 4.-8. 1989, Dresden, GDR - [Reprint 2021]

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    Berlin; Boston: De Gruyter, [2022] ; [Online-Ausgabe]

    Erschienen in: Physical Research ; 13

  3. Sealy, B.J.; Gwilliam, R.M.; Reeson, K.J.; Mynard, J.E.; Stephens, K.G.

    Recent developments in the use of ion beams at Surrey

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    Elsevier BV, 1995

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 99 (1995) 1-4, Seite 580-582

  4. Chater, R.J.; Kilner, J.A.; Reeson, K.J.; Robinson, A.K.; Hemment, P.L.F.

    High-dose oxygen implantation into silica

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    Elsevier BV, 1991

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 55 (1991) 1-4, Seite 686-690

  5. Chater, R.J.; Kilner, J.A.; Reeson, K.J.; Robinson, A.K.; Hemment, P.L.F.

    18O isotope studies on the redistribution of oxygen in noncontinuous buried layers formed by high-dose oxygen ion implantation

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    Elsevier BV, 1990

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 45 (1990) 1-4, Seite 110-114

  6. Stephens, K.G.; Sealy, B.J.; Gwilliam, R.M.; Reeson, K.J.

    High energy implantation at the University of Surrey

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    Elsevier BV, 1991

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 56-57 (1991), Seite 630-633

  7. Homewood, K.P.; Reeson, K.J.; Lourenco, M.A.; Hemment, P.L.F.; Davis, J.R.

    Evaluation of SOI/SIMOX substrates using photoconductive frequency resolved spectroscopy (PCRFS)

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    Elsevier BV, 1989

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 39 (1989) 1-4, Seite 207-209

  8. Kilner, J.A.; Chater, R.J.; Reeson, K.J.; Hemment, P.L.F.; Davis, J.R.

    Nitrogen-15 isotope tracer studies of buried nitride layer formation by high dose implantation

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    Elsevier BV, 1989

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 39 (1989) 1-4, Seite 225-229

  9. Chater, R.J.; Kilner, J.A.; Hemment, P.L.F.; Reeson, K.J.; Davis, J.R.

    The evolution of the Si/SiO2 interface in buried oxide layers formed by high dose oxygen implantation into silicon

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    Elsevier BV, 1987

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 19-20 (1987), Seite 290-293