Zum Inhalt springen Cham, Kit M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Computer-aided design and VLSI device development Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Boston [u.a.]: Kluwer, 1986 Erschienen in: Kluwer international series in engineering and computer science ; [7] Cham, Kit M. [HerausgeberIn] Computer-aided design and VLSI device development - [2. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Boston, Mass.: Kluwer, 1988 Erschienen in: Kluwer international series in engineering and computer science ; 53.1988 Kwan, Sze-Hon; Cham, Kit M.; Wegener, H. A. Richard An Automated Test System for MNOS Transistor Characterization Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1983 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Fang, Robert C. Y.; Rung, Robert D.; Cham, Kit M. An improved automatic test system for VLSI parametric testing Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1982 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Yang, David X. D.; Min, Hao; Fowler, Boyd A.; El Gamal, Abbas; Beiley, Mark; Cham, Kit M. Test structures for characterization and comparative analysis of CMOS image sensors Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1996 Erschienen in: Advanced Focal Plane Arrays and Electronic Cameras
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Cham, Kit M. [HerausgeberIn] Computer-aided design and VLSI device development - [2. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Boston, Mass.: Kluwer, 1988 Erschienen in: Kluwer international series in engineering and computer science ; 53.1988
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Kwan, Sze-Hon; Cham, Kit M.; Wegener, H. A. Richard An Automated Test System for MNOS Transistor Characterization Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1983 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
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Fang, Robert C. Y.; Rung, Robert D.; Cham, Kit M. An improved automatic test system for VLSI parametric testing Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1982 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
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Yang, David X. D.; Min, Hao; Fowler, Boyd A.; El Gamal, Abbas; Beiley, Mark; Cham, Kit M. Test structures for characterization and comparative analysis of CMOS image sensors Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1996 Erschienen in: Advanced Focal Plane Arrays and Electronic Cameras
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (2) Wert ausschließen Bücher (2) Wert ausschließen Konferenzberichte (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Magazinbestellung (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Nicht zu entscheiden (3) Wert ausschließen Englisch (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Technik (4) Wert ausschließen Allgemeines (2) Wert ausschließen Informatik (2) Wert ausschließen Mathematik (2) Wert ausschließen Physik (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Cham, Kit M. (5) Wert ausschließen Beiley, Mark (1) Wert ausschließen El Gamal, Abbas (1) Wert ausschließen Fang, Robert C. Y. (1) Wert ausschließen Fowler, Boyd A. (1) Wert ausschließen Kwan, Sze-Hon (1) Wert ausschließen Min, Hao (1) Wert ausschließen Rung, Robert D. (1) Wert ausschließen Wegener, H. A. Richard (1) Wert ausschließen Yang, David X. D. (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (2) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (2) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen