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Medientyp: Buch Titel: Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications Beteiligte: Fuchs, Ekkehard [Verfasser:in]; Oppolzer, Helmut [Verfasser:in]; Rehme, Hans [Verfasser:in] Erschienen: Weinheim [u.a.]: VCH, 1990 Umfang: XVIII, 507 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3527268847; 0895735059 RVK-Notation: UX 1380 : Sonstige Methoden (z.B. physikalische Altersbestimmung) UH 6200 : Teilchenoptik und Elektronenmikroskopie allgemein Schlagwörter: Sekundärionen-Massenspektrometrie Elektronenmikroskopie Elektronenstrahltesten Elektronenstrahlmikroanalyse Sekundärionen-Massenspektrometrie Elektronenmikroskopie Elektronenstrahltesten Elektronenstrahlmikroanalyse Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben
Bereichsbibliothek DrePunct Signatur: UH 6200 F951 Barcode: 32579022 Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Materialwissenschaft Nanotechnik erfragen.