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Practical surface analysis / 2, Ion and neutral spectroscopy - [2. ed.]

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Chichester: Wiley, 1992

Erschienen in: Practical surface analysis / ed. by D. Briggs ... ; 2,2
Bünau, Günther von [VerfasserIn]; Kloeppel, Klaus-Dieter [VerfasserIn]

Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse

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Opladen: Westdeutscher Verlag, 1981

Erschienen in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049
Brümmer, Otto [HerausgeberIn]; Berg, Uta [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [2., durchges. Aufl.]

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Leipzig: Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, [1980]
Brümmer, Otto [HerausgeberIn]

Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [1. Aufl.]

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Leipzig: Dt. Verl. für Grundstoffindustrie, [19]78
Grasserbauer, Manfred [VerfasserIn]; Dudek, Hans J. [VerfasserIn]; Ebel, Maria F. [VerfasserIn] ; Dudek, Hans Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS ; mit 29 Tabellen

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Berlin: Akad.-Verl., 1986
Fuchs, Ekkehard [VerfasserIn]; Oppolzer, Helmut [VerfasserIn]; Rehme, Hans [VerfasserIn]

Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications

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Weinheim [u.a.]: VCH, 1990
Czanderna, Alvin W. [HerausgeberIn]; Hercules, David M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Ion spectroscopies for surface analysis

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1991

Erschienen in: Methods of surface characterization ; 2
Grasserbauer, Manfred [VerfasserIn]; Dudek, Hans J. [VerfasserIn]; Ebel, Maria F. [VerfasserIn]

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS : mit 29 Tabellen

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986
Tesmer, Joseph R. [HerausgeberIn] ; Materials Research Society

Handbook of modern ion beam materials analysis

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Pittsburgh, Penn.: Materials Research Society, 1995
Trieloff, Mario [VerfasserIn]; Ludwig, Thomas [VerfasserIn]

Neue Einblicke in die Kosmochemie

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Heidelberg: Universitätsbibliothek Heidelberg, 2015
Schäfer, Lena [VerfasserIn]

Die intra- und interkristalline Verteilung der Spurenelemente Phosphor, Scandium, Cobalt und Zink in orogenen Ultramafititen

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2015
Schäfer, Tobias [VerfasserIn]

Die intra- und interkristalline Verteilung der Spurenelemente Phosphor, Scandium, Cobalt und Zink in Erdmantel-Xenolithen

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2015
Tilmann, Rita [VerfasserIn] ; Düsberg, Georg S. [AkademischeR BetreuerIn]; Düsberg, Georg S. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Pollard, Andrew [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Universität der Bundeswehr München, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik

Investigation of Two-Dimensional Transition Metal Dichalcogenides with Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

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https://d-nb.info/1297825497/34

kostenfrei

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Neubiberg: Universitätsbibliothek der Universität der Bundeswehr München, 2023
Bubert, H.; Klockenkämper, R.

Quantitative Oberflächenanalyse binärer Metallsysteme durch Ionen-Streuungs-Spektrometrie und Sekundärionen-Massenspektrometrie

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Elsevier BV, 1981

Erschienen in: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy

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