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  1. ISO/TC 201 Chemische Oberflächenanalyse, ISO/TC 201 Surface chemical analysis, ISO/TC 201 Analyse chimique des surfaces, ISO Internationale Organisation für Normung, ISO International Organization for Standardization, ISO Organisation Internationale de Normalisation

    ISO 23170 : Surface chemical analysis - Depth profiling - Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering - [2022-06-00]

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    Geneve: International Organization for Standardization, 2022

    Published in: ISO-Regelwerk- ISO-Normen

  2. Igel, Thomas [Author] ; Winter, Helmut [Other]; Baberschke, Klaus [Other]; Manzke, Ricardo [Other]

    Untersuchung der strukturellen und magnetischen Eigenschaften ultradünner 3d-Metall-Filme auf Fe(100) mit Ionenstrahlen

    Berlin: Humboldt-Universität zu Berlin, 2001

  3. Skrotzki, Richard [Author] ; Wosnitza, Joachim [Degree supervisor]; Herrmannsdörfer, Thomas [Degree supervisor]; Helm, Manfred [Other]

    Supraleitung in Gallium-implantiertem Silizium

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    Dresden: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden; Dresden: Technische Universität Dresden, 2016

  4. Kosmata, Marcel [Author] ; Möller, Wolfhard [Degree supervisor]; Ronning, Carsten [Degree supervisor]

    Elastische Rückstoßatomspektrometrie leichter Elemente mit Subnanometer-Tiefenauflösung

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    Dresden: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden; Dresden: Technische Universität Dresden, 2012