Cassano, Luca
[HerausgeberIn]
;
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 36. 2023 Juan-Les-Pins,
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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[Piscataway, NJ]: IEEE, 2023
Cassano, Luca
[HerausgeberIn];
Chakravarty, Sreejit
[HerausgeberIn];
Bosio, Alberto
[HerausgeberIn]
;
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 35. 2022 Austin, Tex,
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Piscataway, NJ: IEEE, 2022
Dilillo, Luigi
[HerausgeberIn];
Cassano, Luca
[HerausgeberIn];
Papadimitriou, Athanasios
[HerausgeberIn]
;
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 34. 2021 Online,
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Piscataway, NJ: IEEE, 2021
Dilillo, Luigi
[HerausgeberIn];
Psarakis, Mihalis
[HerausgeberIn];
Siddiqua, Taniya
[HerausgeberIn]
;
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 33. 2020 Online,
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Piscataway, NJ: IEEE, 2020
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 32. 2019 Noordwijk; Delft,
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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[Piscataway, NJ]: IEEE, 2019
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 31. 2018 Chicago, Ill,
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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[Piscataway, NJ]: IEEE, 2018
Chapman, Glenn
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
;
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council,
IEEE Computer Society Technical Committee on Fault Tolerant Computing
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Institute of Electrical and Electronics Engineers,
IEEE Computer Society,
IEEE Computer Society Technical Committee on Fault Tolerant Computing,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
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2006
Veleski, Mitko
[VerfasserIn]
;
Kraemer, Rolf
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Hübner, Michael
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Krstic, Milos
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
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Cottbus: BTU Cottbus - Senftenberg, 2022
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 30. 2017 Cambridge,
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
IEEE Computer Society,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council,
IEEE Computer Society Technical Committee on Fault Tolerant Computing
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Piscataway, NJ: IEEE, 2017
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 29. 2016 Storrs, Conn,
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
IEEE Computer Society,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council,
IEEE Computer Society Technical Committee on Dependable Computing and Fault Tolerance
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Piscataway, NJ: IEEE, 2016
International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 28. 2015 Amherst, Mass,
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
IEEE Computer Society