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Berman, Gennadij P. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Borgonovi, Fausto [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gorshkov, Vyacheslav N. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Tsifrinovich, Vladimir I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Magnetic resonance force microscopy and a single-spin measurement

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Hackensack, NJ [u.a.]: World Scientific, 2006
Kedrov, Alexej [VerfasserIn]

Observing molecular interactions that determine stability, folding, and functional states of sigle Na+ H+ antiporters

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2006
Wingender, Jörg [VerfasserIn]

Darstellung und Charakterisierung von mineralischen Bindemitteln : Synthese, Rasterkraftmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie

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2002
Chui, Benjamin W. [VerfasserIn]

Microcantilevers for atomic force microscope data storage

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Boston [u.a.]: Kluwer, 1999

Erschienen in: Microsystems ; 2
Wendel, Martin [VerfasserIn]

Herstellung und Untersuchung von Halbleiterbauelementen mit dem Rasterkraftmikroskop

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München: Diss.-Verl. NG-Kopierladen, 1997
Magonov, Sergei N. [VerfasserIn] ; Whangbo, Myung-Hwan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Hwangbo, Myŏng-hwan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis

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Weinheim [u.a.]: VCH, 1996
Marti, Othmar [HerausgeberIn]

STM and SFM in biology

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San Diego, Calif. [u.a.]: Acad. Press, 1993
Knüpfer, Paul [VerfasserIn] ; Technische Universität Bergakademie Freiberg

Agglomeration von hydrophoben Partikeln in wässrigen Phasen - [1. Auflage]

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Freiberg: Technische Universität Bergakademie Freiberg, 2021

Erschienen in: Freiberger Forschungshefte / A ; 938
Fischer, Franziska Elisabeth [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden

Development of new approaches for characterising DNA origami-based nanostructures with atomic force microscopy and super-resolution microscopy

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Dresden, [2019?]
Döring, Stefan [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden, Logos Verlag Berlin

Scanning spreading resistance microscopy and its application to passive and active semiconductor device characterization

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Berlin: Logos Verlag, 2017

Erschienen in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 5
Bruce, Duncan W. [HerausgeberIn]; O'Hare, Dermot [HerausgeberIn]; Walton, Richard I. [HerausgeberIn]

Multi length-scale characterisation - [First edition]

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Chichester: Wiley-Blackwell, 2014

Erschienen in: Inorganic materials series
Xie, Hui [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Atomic force microscopy based nanorobotics : modelling, simulation, setup building and experiments

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Berlin; Heidelberg: Springer, c 2011

Erschienen in: Springer tracts in advanced robotics ; 71
Haugstad, Greg [VerfasserIn]

Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications - [1. ed.]

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Hoboken, NJ: Wiley, 2012
Khulbe, Kailash C. [VerfasserIn]; Feng, C. Y. [VerfasserIn]; Matsuura, Takeshi [VerfasserIn]

Synthetic polymeric membranes : characterization by atomic force microscopy

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Berlin; Heidelberg: Springer, 2008

Erschienen in: Springer laboratory- Springer laboratory manuals in polymer science
Janovjak, Harald [VerfasserIn]

Exploring the mechanical stability and visco-elasticity of membrane proteins by single-molecule force measurements

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2005
Lange, Dirk [VerfasserIn]; Brand, Oliver [VerfasserIn]; Baltes, Henry [VerfasserIn]

CMOS cantilever sensor systems : atomic force microscopy and gas sensing applications

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2002

Erschienen in: Microtechnology and MEMS- Physics and astronomy online library
Schadoffsky, Elke [VerfasserIn]

Phasenmorphologie ultradünner Blockcopolymerschichten untersucht mittels Rasterkraftmikroskopie - [1. Aufl.]

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Clausthal-Zellerfeld: Papierflieger, 2000
Leyk, Andreas [VerfasserIn]

Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1998

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 69400
Göken, Mathias [VerfasserIn]

Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1995

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 175
Wolthaus, Lydia [VerfasserIn]

Molekulare Ordnung in organisierten Monofilmen von Alkanoaten und Scheibe-Aggregaten

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1993

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