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Bâzu, Marius I. [VerfasserIn]; Băjenescu, Titu I. [VerfasserIn] ; Băjenescu, Titu-Marius I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Failure analysis : a practical guide for manufacturers of electronic components and systems - [1. publ.]

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Chichester: Wiley, 2011

Erschienen in: Wiley series in quality and reliability engineering
Moreira, José [VerfasserIn]; Werkmann, Hubert [VerfasserIn]

An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces

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Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010

Erschienen in: Artech House microwave library
Rannaste, Anna [VerfasserIn]

Hierarchical test pattern generation and untestability identification techniques for synchronous sequential circuits

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Tallinn: TUT Press, 2010

Erschienen in: Thesis on informatics and system engineering / C ; 58
Bödeker, Klaus [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Prüfung elektrischer Geräte in der betrieblichen Praxis : nach DIN VDE 0701-0702, DIN EN 62353 (VDE 0751-1) - [6., komplett überarb. Aufl.]

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Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2010

Erschienen in: Verband Deutscher Elektrotechniker: VDE-Schriftenreihe ; 6200
Hasan, Shehzad [VerfasserIn]

Test set compaction and diagnosis of crosstalk faults

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Aachen: Shaker, 2010

Erschienen in: Berichte aus der Elektrotechnik
Bahukudumbi, Sudarshan [VerfasserIn]; Chakrabarty, Krishnendu [VerfasserIn]

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits

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Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010

Erschienen in: Artech House integrated microsystems series
Chang, Kai-hui [VerfasserIn]; Markov, Igor L. [VerfasserIn]; Bertacco, Valeria [VerfasserIn]

Functional design errors in digital circuits : diagnosis, correction and repair

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[Dordrecht [u.a.]]: Springer, 2009

Erschienen in: Lecture notes in electrical engineering ; 3200
Rogin, Frank [VerfasserIn]

An integrated approach to utilize designer's debug capacity in system-on-a-chip designs

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2009
Kitcher, Christopher [VerfasserIn]

Practical guide to inspection, testing and certification of electrical installations : conforms to IEE Wiring Regulations /BS 7671/Part P of Building Regulations - [2. ed.]

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Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2009
Pavlov, A. P. [VerfasserIn]; Sachdev, Manoj [VerfasserIn]

CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test

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[London]: Springer, 2008

Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 40
Foster, Harry D. [VerfasserIn] ; Krolnik, Adam C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Creating assertion-based verification IP

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New York, NY: Springer, 2008

Erschienen in: Series on Integrated Circuits and Systems
Hofheinz, Wolfgang [VerfasserIn]

Fehlerstrom-Überwachung in elektrischen Anlagen : Grundlagen, Anwendungen und Technik der Differenzstrommessung in Wechsel- und Gleichspannungssystemen ; DIN EN 61140 (VDE 0140-1) und DIN VDE 0100-410 (VDE 0100-410) mit Überwachungsgeräten nach DIN EN 62020 (VDE 0663) - [2., aktualisierte und überarb. Aufl.]

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Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2008

Erschienen in: Verband Deutscher Elektrotechniker: VDE-Schriftenreihe ; 113.2008
Piziali, Andrew [VerfasserIn]

Functional verification coverage measurement and analysis - [1. softcover print.]

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New York, NY: Springer, c 2008
Gössel, Michael [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Ocheretny, Vitaly [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Sogomonyan, Egor [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Marienfeld, Daniel [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

New methods of concurrent checking

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[Dordrecht]: Springer, 2008

Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 42
Wang, Laung-Terng [HerausgeberIn]; Stroud, Charles E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Touba, Nur A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

System-on-chip test architectures : nanometer design for testability

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Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Morgan Kaufmann Publishers, 2008

Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Spear, Chris [VerfasserIn]

SystemVerilog for verification : a guide to learning the testbench language features - [2. ed.]

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New York, NY: Springer, c 2008
Yoeli, Michael [VerfasserIn]; Kol, Rakefet [VerfasserIn]

Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS

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Hoboken, NJ: Wiley-Interscience, c2008

Erschienen in: Wiley series on parallel and distributed computing
Sachdev, Manoj [VerfasserIn]; Pineda de Gyvez, José [VerfasserIn]

Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits - [2. ed.]

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Dordrecht: Springer, 2007

Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 34,2
Stauffer, H. Brooke [VerfasserIn]; Traister, John E. [VerfasserIn]

Electrician's troubleshooting and testing pocket guide - [3rd ed.]

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New York, N.Y [u.a.]: McGraw-Hill, 2007
Benda, Dietmar [VerfasserIn]

Das große Handbuch Fehlersuche in elektronischen Schaltungen : Lesen und Auswerten von Schaltungsunterlagen, Fehlersuche mit Methode, Messen und Prüfen mit dem Oszilloskop - [Sonderausg.]

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Poing: Franzis, 2007

Erschienen in: Franzis Elektronik

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