Zum Inhalt springen

Bullis, W. Murray [HerausgeberIn] ; Symposium on Defects in Silicon 2 1991 Washington, DC

Defects in Silicon II : proceedings of the Second Symposium on Defects in Silicon; [held at the Washington, DC, May 5 - 10, 1991]

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1991

Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 91,9
Bullis, W. Murray [HerausgeberIn]

Defects in Silicon : proceedings of the Symposium on Defects in Silicon

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1983

Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 83,9
Bullis, W. Murray [HerausgeberIn]

Methods of measurement for semiconductor materials, process control and devices : quarterly report, Oct. 1 to Dec. 31, 1972

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Washington, D.C.: National Bureau of Standards, 1973

Erschienen in: USA: National Bureau of Standards technical note ; 773
Bullis, W. Murray [HerausgeberIn]

Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices : quaterly report; April 1 to june 30, 1973

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Washington: National Bureau of Standards, 1973

Erschienen in: USA: National Bureau of Standards technical note ; 806
Bullis, W. Murray [HerausgeberIn]

Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices : quaterly report; Jan. 1 to March 31, 1973

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Washington: National Bureau of Standards, 1973

Erschienen in: USA: National Bureau of Standards technical note ; 788
Bullis, W. Murray [HerausgeberIn]

Methods of measurement for semiconductor materials, process control and devices : quarterly report; July 1 to Sept. 30, 1971

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Washington: National Bureau of Standards, 1972

Erschienen in: USA: National Bureau of Standards technical note ; 717
Bullis, W. Murray [HerausgeberIn]

Methods of measurement for semiconductor materials, process control and devices : quarterly report; Oct. 1 to Dec. 31, 1971

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Washington: National Bureau of Standards, 1972

Erschienen in: USA: National Bureau of Standards technical note ; 727
Bullis, W.Murray

Current trends in silicon defect technology

Online ansehen
Schließen

Zugang

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Elsevier BV, 2000

Erschienen in: Materials Science and Engineering: B
Bullis, W. Murray

An Invited Guest Column: Rambling Thoughts on Change

Online ansehen
Schließen

Zugang

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

The Electrochemical Society, 1995

Erschienen in: The Electrochemical Society Interface
Bullis, W. Murray

Minority Carrier Thermoelectric Cooling

Online ansehen
Schließen

Zugang

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

AIP Publishing, 1963

Erschienen in: Journal of Applied Physics
Bullis, W. Murray

Galvanomagnetic Effects in Oriented Single Crystals ofn-Type Germanium

Online ansehen
Schließen

Zugang

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

American Physical Society (APS), 1958

Erschienen in: Physical Review
Bullis, W. Murray; Strieter, F. J.

Electrical Properties of n-Type Silicon Doped with Gold

Online ansehen
Schließen

Zugang

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

AIP Publishing, 1968

Erschienen in: Journal of Applied Physics
Barlow, David H.; Farchione, Todd J.; Bullis, Jacqueline R.; Gallagher, Matthew W.; Murray-Latin, Heather; Sauer-Zavala, Shannon; Bentley, Kate H.; Thompson-Hollands, Johanna; Conklin, Laren R.; Boswell, James F.; Ametaj, Amantia; Carl, Jenna R.; Boettcher, Hannah T.; Cassiello-Robbins, Clair

The Unified Protocol for Transdiagnostic Treatment of Emotional Disorders Compared With Diagnosis-Specific Protocols for Anxiety Disorders : A Randomized Clinical Trial : A Randomized Clinical Trial

Online ansehen
Schließen

Zugang

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

American Medical Association (AMA), 2017

Erschienen in: JAMA Psychiatry
Giannakopoulou, Olga; Lin, Kuang; Meng, Xiangrui; Su, Mei-Hsin; Kuo, Po-Hsiu; Peterson, Roseann E.; Awasthi, Swapnil; Moscati, Arden; Coleman, Jonathan R. I.; Bass, Nick; Millwood, Iona Y.; Chen, Yiping; Chen, Zhengming; Chen, Hsi-Chung; Lu, Mong-Liang; Huang, Ming-Chyi; Chen, Chun-Hsin; Stahl, Eli A.; Loos, Ruth J. F.; Mullins, Niamh; Ursano, Robert J.; Kessler, Ronald C.; Stein, Murray B.; Sen, Srijan; [...]

The Genetic Architecture of Depression in Individuals of East Asian Ancestry : A Genome-Wide Association Study : A Genome-Wide Association Study

Online ansehen
Schließen

Zugang

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

American Medical Association (AMA), 2021

Erschienen in: JAMA Psychiatry

Sie haben das Gesuchte nicht gefunden?

Kauftipp
Sie vermissen etwas, was Sie für Ihre Forschungszwecke benötigen? Geben Sie uns hier einen Kauf-Tipp.

Fernleihe
Recherchieren und bestellen Sie Ihren gewünschten Titel im Rechercheportal der Fernleihe.

Nur in Feld suchen:

Zuletzt gesuchte Begriffe:

Sie haben das Gesuchte nicht gefunden?

> Erscheinungsjahr

Erscheinungsjahr