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  1. Bernstein, Kerry [VerfasserIn]; Rohrer, Norman J. [VerfasserIn]

    SOI circuit design concepts

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    Boston: Springer, 2007

  2. Nazarov, Alexei [HerausgeberIn]; Colinge, J.-P [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Balestra, Francis [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Raskin, Jean-Pierre [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gamiz, Francisco [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lysenke, V.S [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Nazarov, Alexei N. [HerausgeberIn]

    Semiconductor-on-insulator materials for nanoelectronics applications

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011

    Erschienen in: Engineering materials

  3. Reinhardt, Karen A. [HerausgeberIn]; Kern, Werner [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Handbook of silicon wafer cleaning technology - [2. ed.]

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    Norwich, NY: William Andrew, 2008

    Erschienen in: Materials science & process technology series

  4. Hemment, P. L. F. [HerausgeberIn]; Cristoloveanu, Sorin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Izumi, Katsu [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Houston, Ted [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Wilson, Syd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Electrochemical Society Electronics Division, International Symposium on Silicon on Insulator Technology and Devices 7 1996 Los Angeles, Calif

    Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices : [held May 5 - 10, 1996, Los Angeles, California]

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    Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1996

    Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 96,3

  5. Wuu, Shou-Gwo [VerfasserIn] ; Müller, Jörg [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bauhofer, Wofgang [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Technische Universität Hamburg-Harburg Arbeitsbereich Halbleitertechnologie

    Laser induced lateral epitaxy on silicon-on-insulator - [Als Ms. gedr.]

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    Düsseldorf: VDI-Verl., 1992

    Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 143