Zum Inhalt springen Breyer, Evelyn T. [VerfasserIn] ; Books on Demand GmbH Norderstedt, Technische Universität Dresden Development and investigation of novel logic-in-memory and nonvolatile logic circuits utilizing hafnium oxide-based ferroelectric field-effect transistors - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Norderstedt: BoD – Books on Demand, [2022] Erschienen in: Research at namlab Ishiwara, Hiroshi [HerausgeberIn] Ferroelectric random access memories : fundamentals and applications ; with 12 tables Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004 Erschienen in: Topics in applied physics ; 93 Scott, James F. [VerfasserIn] Ferroelectric memories Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York , Berlin; Heidelberg: Springer, 2000 Erschienen in: Advanced microelectronics ; 3 Tiedke, Stephan [VerfasserIn] Elektrische Charakterisierung ferroelektrischer Nanostrukturen in Hinblick auf die Verwendung in nicht-flüchtigen Speicherbausteinen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker, 2005 Erschienen in: Berichte aus der Elektrotechnik Knebel, Steve [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden, Logos Verlag Berlin Herstellung ultra-dünner hoch-[epsilon]r Oxide und deren Verhalten unter dynamischen elektrischen Stressbedingungen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Logos Verlag, [2019] Erschienen in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 6 Pešić, Milan Dragan [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Gate stack engineering for emerging polarization based non-volatile memories - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Norderstedt: BoD Books on Demand, [2017] Erschienen in: Research at namlab Ramesh, Ramamoorthy [HerausgeberIn] Thin film ferroelectric materials and devices Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Academic Publ., 1997 Erschienen in: Kluwer international series in electronic materials, science and technology ; 3 Ellerkmann, Ulrich [VerfasserIn] Impact of the interface capacity on failure mechanisms and size effects in ferroelectric thin films Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker, 2006 Erschienen in: Berichte aus der Halbleitertechnik George, Easo P. [HerausgeberIn] ; Symposium on Materials for Smart Systems 1 1994 Boston, Mass Materials for smart systems : symposium held November 28 - 30, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A. Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society, 1995 Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 36000 - Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings / Materials for smart systems ; 1 Yurchuk, Ekaterina [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Electrical characterisation of ferroelectric field effect transistors based on ferroelectric HfO2 thin films Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Logos Verlag, 2015 Erschienen in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 4 Großmann, Michael [VerfasserIn] Imprint : an important failure mechanism of ferroelectric thin films in view of memory applications - [Als Ms. gedr.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Düsseldorf: VDI-Verl., 2001 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 346 Lederer, Maximilian [VerfasserIn] ; Eng, Lukas [AkademischeR BetreuerIn]; Noheda, Beatriz [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden Material development of doped hafnium oxide for non-volatile ferroelectric memory application Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden: Technische Universität Dresden, 6th May 2022 Materano, Monica [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Dubourdieu, Catherine [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden Optimization of performance and reliability of HZO-based capacitors for ferroelectric memory applications Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden, 31.01.2022 Okuyama, Masanori [HerausgeberIn]; Ishibashi, Yoshihiro [HerausgeberIn] Ferroelectric thin films : basic properties and device physics for memory applications Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2005 Erschienen in: Topics in applied physics ; 98 Congiu, Giuseppe [VerfasserIn] Improving I/O performance in HPC through guided prefetching and non-volatile memory devices Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1165913135/34 Zugang und weitere Informationen zur Ressource (kostenfrei) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Mainz: Universitätsbibliothek Mainz, 2018 Witzleben, Moritz Alexander von [VerfasserIn] ; Waser, Rainer [AkademischeR BetreuerIn]; Negra, Renato [AkademischeR BetreuerIn] Switching kinetics of valence change memory devices on a sub-100 ps timescale Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/124574738X/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2021 Mai, Manfang [VerfasserIn] ; Kliem, Herbert [AkademischeR BetreuerIn] Polarization switching in ferroelectric films of P(VDF-TrFE) copolymer Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1053682565/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Saarbrücken: Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2013 Vogel, Tobias [VerfasserIn] ; Alff, Lambert [AkademischeR BetreuerIn]; Trautmann, Christina [AkademischeR BetreuerIn] Switching in Emerging Memories and their Response to Heavy Ion Irradiation Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1283559501/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Darmstadt: Universitäts- und Landesbibliothek, 2023 Nordheim, Danny von [VerfasserIn] ; Gerhard, Reimund [AkademischeR BetreuerIn]; Ploss, Bernd [AkademischeR BetreuerIn] Dielectric non-linearities of P(VDF-TrFE) single and multilayers for memory applications Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1218404272/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Potsdam: Universität Potsdam, 2018 Pešić, Milan [VerfasserIn]; Schroeder, Uwe [VerfasserIn]; Slesazeck, Stefan [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn] Comparative Study of Reliability of Ferroelectric and Anti-Ferroelectric Memories Aufsätze Online ansehen Schließen > Links Zugang und weitere Informationen zur Ressource Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York : IEEE, [2021]
Breyer, Evelyn T. [VerfasserIn] ; Books on Demand GmbH Norderstedt, Technische Universität Dresden Development and investigation of novel logic-in-memory and nonvolatile logic circuits utilizing hafnium oxide-based ferroelectric field-effect transistors - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Norderstedt: BoD – Books on Demand, [2022] Erschienen in: Research at namlab
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Ishiwara, Hiroshi [HerausgeberIn] Ferroelectric random access memories : fundamentals and applications ; with 12 tables Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004 Erschienen in: Topics in applied physics ; 93
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Scott, James F. [VerfasserIn] Ferroelectric memories Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York , Berlin; Heidelberg: Springer, 2000 Erschienen in: Advanced microelectronics ; 3
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Tiedke, Stephan [VerfasserIn] Elektrische Charakterisierung ferroelektrischer Nanostrukturen in Hinblick auf die Verwendung in nicht-flüchtigen Speicherbausteinen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker, 2005 Erschienen in: Berichte aus der Elektrotechnik
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Knebel, Steve [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden, Logos Verlag Berlin Herstellung ultra-dünner hoch-[epsilon]r Oxide und deren Verhalten unter dynamischen elektrischen Stressbedingungen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Logos Verlag, [2019] Erschienen in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 6
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Pešić, Milan Dragan [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Gate stack engineering for emerging polarization based non-volatile memories - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Norderstedt: BoD Books on Demand, [2017] Erschienen in: Research at namlab
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Ramesh, Ramamoorthy [HerausgeberIn] Thin film ferroelectric materials and devices Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Academic Publ., 1997 Erschienen in: Kluwer international series in electronic materials, science and technology ; 3
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Ellerkmann, Ulrich [VerfasserIn] Impact of the interface capacity on failure mechanisms and size effects in ferroelectric thin films Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker, 2006 Erschienen in: Berichte aus der Halbleitertechnik
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George, Easo P. [HerausgeberIn] ; Symposium on Materials for Smart Systems 1 1994 Boston, Mass Materials for smart systems : symposium held November 28 - 30, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A. Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society, 1995 Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 36000 - Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings / Materials for smart systems ; 1
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Yurchuk, Ekaterina [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Electrical characterisation of ferroelectric field effect transistors based on ferroelectric HfO2 thin films Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Logos Verlag, 2015 Erschienen in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 4
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Großmann, Michael [VerfasserIn] Imprint : an important failure mechanism of ferroelectric thin films in view of memory applications - [Als Ms. gedr.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Düsseldorf: VDI-Verl., 2001 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 346
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Lederer, Maximilian [VerfasserIn] ; Eng, Lukas [AkademischeR BetreuerIn]; Noheda, Beatriz [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden Material development of doped hafnium oxide for non-volatile ferroelectric memory application Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden: Technische Universität Dresden, 6th May 2022
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Materano, Monica [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Dubourdieu, Catherine [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden Optimization of performance and reliability of HZO-based capacitors for ferroelectric memory applications Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden, 31.01.2022
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Okuyama, Masanori [HerausgeberIn]; Ishibashi, Yoshihiro [HerausgeberIn] Ferroelectric thin films : basic properties and device physics for memory applications Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2005 Erschienen in: Topics in applied physics ; 98
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Congiu, Giuseppe [VerfasserIn] Improving I/O performance in HPC through guided prefetching and non-volatile memory devices Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1165913135/34 Zugang und weitere Informationen zur Ressource (kostenfrei) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Mainz: Universitätsbibliothek Mainz, 2018
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Witzleben, Moritz Alexander von [VerfasserIn] ; Waser, Rainer [AkademischeR BetreuerIn]; Negra, Renato [AkademischeR BetreuerIn] Switching kinetics of valence change memory devices on a sub-100 ps timescale Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/124574738X/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2021
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Mai, Manfang [VerfasserIn] ; Kliem, Herbert [AkademischeR BetreuerIn] Polarization switching in ferroelectric films of P(VDF-TrFE) copolymer Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1053682565/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Saarbrücken: Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2013
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Vogel, Tobias [VerfasserIn] ; Alff, Lambert [AkademischeR BetreuerIn]; Trautmann, Christina [AkademischeR BetreuerIn] Switching in Emerging Memories and their Response to Heavy Ion Irradiation Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1283559501/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Darmstadt: Universitäts- und Landesbibliothek, 2023
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Nordheim, Danny von [VerfasserIn] ; Gerhard, Reimund [AkademischeR BetreuerIn]; Ploss, Bernd [AkademischeR BetreuerIn] Dielectric non-linearities of P(VDF-TrFE) single and multilayers for memory applications Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1218404272/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Potsdam: Universität Potsdam, 2018
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Pešić, Milan [VerfasserIn]; Schroeder, Uwe [VerfasserIn]; Slesazeck, Stefan [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn] Comparative Study of Reliability of Ferroelectric and Anti-Ferroelectric Memories Aufsätze Online ansehen Schließen > Links Zugang und weitere Informationen zur Ressource Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York : IEEE, [2021]
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (1.132) Wert ausschließen Bücher (37) Wert ausschließen Konferenzberichte (10) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (13) Wert ausschließen Magazinbestellung (7) Wert ausschließen Verfügbarkeit vor Ort erfragen (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (12) Wert ausschließen Zentralbibliothek (10) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Rechte-/Nutzungshinweis Skip to next facet Urheberrechtsschutz (11) Wert ausschließen Namensnennung - Keine Bearbeitung (CC BY-ND) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (204) Wert ausschließen Ohne Angabe (961) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Englisch (804) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (372) Wert ausschließen Deutsch (7) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Physik (597) Wert ausschließen Technik (481) Wert ausschließen Mathematik (295) Wert ausschließen Chemie und Pharmazie (198) Wert ausschließen Allgemeines (54) Wert ausschließen Biologie (52) Wert ausschließen Informatik (24) Wert ausschließen Medizin (9) Wert ausschließen Wirtschaftswissenschaften (3) Wert ausschließen Land- und Forstwirtschaft, Gartenbau, Fischereiwirtschaft, Hauswirtschaft (2) Wert ausschließen Allgemeine Naturwissenschaft (1) Wert ausschließen Allgemeine und vergleichende Sprach- und Literaturwissenschaft, Indogermanistik, Außereuropäische Sprachen und Literaturen (1) Wert ausschließen Geschichte (1) Wert ausschließen Kunst und Kunstgeschichte (1) Wert ausschließen Psychologie (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Mikolajick, Thomas (26) Wert ausschließen Ishiwara, Hiroshi (24) Wert ausschließen Yoon, Sung-Min (21) Wert ausschließen Park, Cheolmin (20) Wert ausschließen Kwon, Daewoong (16) Wert ausschließen Im, Seongil (15) Wert ausschließen Slesazeck, Stefan (13) Wert ausschließen Kämpfe, Thomas (12) Wert ausschließen Mulaosmanovic, Halid (12) Wert ausschließen Ni, Kai (12) Wert ausschließen Sakai, Shigeki (12) Wert ausschließen Bae, Insung (11) Wert ausschließen Chu, Junhao (11) Wert ausschließen Okuyama, Masanori (11) Wert ausschließen Wang, Jianlu (11) Wert ausschließen Duan, Chungang (10) Wert ausschließen Jung, Soon-Won (10) Wert ausschließen Kang, Seok Ju (10) Wert ausschließen Yu, Shimeng (10) Wert ausschließen Hao, Yue (9) Wert ausschließen Kim, Kinam (9) Wert ausschließen Lee, Kitae (9) Wert ausschließen Singh, Prashant (9) Wert ausschließen Takahashi, Mitsue (9) Wert ausschließen Technische Universität Dresden (9) Wert ausschließen Tian, Bobo (9) Wert ausschließen Hwang, Chi-Sun (8) Wert ausschließen Jiang, Jun (8) Wert ausschließen Kim, Sihyun (8) Wert ausschließen Lederer, Maximilian (8) Wert ausschließen Liu, Chen (8) Wert ausschließen Park, Min Hyuk (8) Wert ausschließen Park, Youn Jung (8) Wert ausschließen Salahuddin, Sayeef (8) Wert ausschließen Schroeder, Uwe (8) Wert ausschließen Wang, Wei (8) Wert ausschließen Zhang, David Wei (8) Wert ausschließen Biradar, Ashok M. (7) Wert ausschließen Chang, Ting-Chang (7) Wert ausschließen Feng, Guangdi (7) Wert ausschließen Gong, Xiao (7) Wert ausschließen Han, Genquan (7) Wert ausschließen Hwang, Cheol Seong (7) Wert ausschließen Jeon, Sanghun (7) Wert ausschließen Kim, Woo Young (7) Wert ausschließen Kobayashi, Masaharu (7) Wert ausschließen Lee, Jong-Ho (7) Wert ausschließen Lee, Joseph Ya-min (7) Wert ausschließen Lee, Kwang H. (7) Wert ausschließen Liu, Yan (7) Wert ausschließen Müller, Franz (7) Wert ausschließen Peng, Yue (7) Wert ausschließen Seidel, Konrad (7) Wert ausschließen Wu, Yung-Hsien (7) Wert ausschließen Xu, Meili (7) Wert ausschließen Yamamoto, Shuu'ichirou (7) Wert ausschließen Zhou, Peng (7) Wert ausschließen Zhou, Yichun (7) Wert ausschließen Beyer, Sven (6) Wert ausschließen Biradar, A. M. (6) Wert ausschließen Breyer, Evelyn T. (6) Wert ausschließen Datta, Suman (6) Wert ausschließen De, Sourav (6) Wert ausschließen Hiramoto, Toshiro (6) Wert ausschließen Ho, Fat D. (6) Wert ausschließen Hu, Chenming (6) Wert ausschließen Hwang, Sun Kak (6) Wert ausschließen Jha, Rajesh Kumar (6) Wert ausschließen Kang, Myounggon (6) Wert ausschließen Kim, Richard Hahnkee (6) Wert ausschließen Lee, Jang-Sik (6) Wert ausschließen Liao, Min (6) Wert ausschließen Liu, Qi (6) Wert ausschließen Park, Byung-Gook (6) Wert ausschließen Peng, Hao-Kai (6) Wert ausschließen Scott, J. F. (6) Wert ausschließen Takeuchi, Ken (6) Wert ausschließen Tan, Yung-Fang (6) Wert ausschließen Wang, Peng (6) Wert ausschließen Xie, Wenfa (6) Wert ausschließen Yu, Byoung-Gon (6) Wert ausschließen Aggarwal, S. (5) Wert ausschließen Ali, Tarek (5) Wert ausschließen Alshareef, Husam N. (5) Wert ausschließen Asadi, Kamal (5) Wert ausschließen Auciello, O. (5) Wert ausschließen Bhansali, Unnat S. (5) Wert ausschließen Byun, Chun-Won (5) Wert ausschließen Chang, Kai-Chun (5) Wert ausschließen Chen, Lin (5) Wert ausschließen Chen, Wen-Chung (5) Wert ausschließen Gelinck, Gerwin H. (5) Wert ausschließen Hikosaka, Yukinobu (5) Wert ausschließen Hoffmann, Raik (5) Wert ausschließen Jiang, An Quan (5) Wert ausschließen Jung, Minhyun (5) Wert ausschließen Kanashima, Takeshi (5) Wert ausschließen Kim, Giuk (5) Wert ausschließen Kim, Ik-Jyae (5) Wert ausschließen Kim, Kang Lib (5) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (198) Wert ausschließen AIP Publishing (CrossRef) (160) Wert ausschließen IOP Publishing (CrossRef) (158) Wert ausschließen Informa UK Limited (CrossRef) (146) Wert ausschließen Wiley (CrossRef) (105) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (84) Wert ausschließen American Chemical Society (ACS) (CrossRef) (66) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (56) Wert ausschließen Royal Society of Chemistry (RSC) (CrossRef) (29) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (23) Wert ausschließen MDPI AG (CrossRef) (19) Wert ausschließen The Electrochemical Society (CrossRef) (17) Wert ausschließen American Physical Society (APS) (CrossRef) (15) Wert ausschließen Diss online (14) Wert ausschließen Korean Physical Society (CrossRef) (9) Wert ausschließen American Vacuum Society (CrossRef) (8) Wert ausschließen Lizenzfreie Online-Ressourcen (8) Wert ausschließen Pleiades Publishing Ltd (CrossRef) (8) Wert ausschließen Qucosa Technische Universität Dresden (8) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (8) Wert ausschließen Qucosa (6) Wert ausschließen Hindawi Limited (CrossRef) (5) Wert ausschließen Trans Tech Publications, Ltd. (CrossRef) (5) Wert ausschließen Institution of Engineering and Technology (IET) (CrossRef) (4) Wert ausschließen American Association for the Advancement of Science (AAAS) (CrossRef) (3) Wert ausschließen Association for Computing Machinery (ACM) (CrossRef) (2) Wert ausschließen Frontiers Media SA (CrossRef) (2) Wert ausschließen Optica Publishing Group (CrossRef) (2) Wert ausschließen Trans Tech Publications Ltd. (CrossRef) (2) Wert ausschließen AIP Publishing LLC (CrossRef) (1) Wert ausschließen Acoustical Society of America (ASA) (CrossRef) (1) Wert ausschließen Allerton Press (CrossRef) (1) Wert ausschließen Ceramic Society of Japan (CrossRef) (1) Wert ausschließen Institute of Electrical Engineers of Japan (IEE Japan) (CrossRef) (1) Wert ausschließen Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE) (CrossRef) (1) Wert ausschließen Institute of Physical Optics (CrossRef) (1) Wert ausschließen Japan Society of Powder and Powder Metallurgy (CrossRef) (1) Wert ausschließen National Library of Serbia (CrossRef) (1) Wert ausschließen Oxford University Press (OUP) (CrossRef) (1) Wert ausschließen RTU MIREA (CrossRef) (1) Wert ausschließen SAGE Publications (CrossRef) (1) Wert ausschließen Science Publishing Group (CrossRef) (1) Wert ausschließen Surface Science Society Japan (CrossRef) (1) Wert ausschließen Technosphera JSC (CrossRef) (1) Wert ausschließen The Crystallographic Society of Japan (CrossRef) (1) Wert ausschließen The Institute of Electronics Engineers of Korea (CrossRef) (1) Wert ausschließen The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (CrossRef) (1) Wert ausschließen The Surface Finishing Society of Japan (CrossRef) (1) Wert ausschließen Trans Tech Publications Ltd (CrossRef) (1) Wert ausschließen Tsinghua University Press (CrossRef) (1) Wert ausschließen Walter de Gruyter GmbH (CrossRef) (1) Wert ausschließen World Scientific Pub Co Pte Ltd (CrossRef) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen