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  1. Colinge, Jean-Pierre [HerausgeberIn]

    FinFETs and other multi-gate transistors

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    New York [u.a.]: Springer, 2008

    Erschienen in: Series on integrated circuits and systems

  2. Van Santen, Victor [VerfasserIn] ; Henkel, Jörg [AkademischeR BetreuerIn]; Amrouch, Hussam [AkademischeR BetreuerIn]; Schlichtmann, Ulf [AkademischeR BetreuerIn]

    Degradation Models and Optimizations for CMOS Circuits

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    Karlsruhe: KIT-Bibliothek, 2023

  3. Baldauf, Tim [VerfasserIn] ; Gerlach, Gerald [AkademischeR BetreuerIn]; Stenzel, Roland [AkademischeR BetreuerIn]

    Integration von Multi-Gate-Transistoren auf Basis einer 22 nm-Technologie

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    Dresden: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden; Dresden: Technische Universität Dresden, 2014

  6. Rapp, Martin [VerfasserIn]; Salamin, Sami [VerfasserIn]; Amrouch, Hussam [VerfasserIn]; Pahwa, Girish [VerfasserIn]; Chauhan, Yogesh [VerfasserIn]; Henkel, Jörg [VerfasserIn]

    Performance, Power and Cooling Trade-Offs with NCFET-based Many-Cores

    Aufsätze
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    Association for Computing Machinery, 2019-01-01

  7. Van Santen, Victor M. [VerfasserIn] ; Henkel, Jörg [MitwirkendeR]; Amrouch, Hussam [MitwirkendeR]; Schlichtmann, Ulf [MitwirkendeR]

    Degradation Models and Optimizations for CMOS Circuits

    Hochschulschriften
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    KIT-Bibliothek, Karlsruhe, 2023-05-07

  10. Ritzenthaler, Romain [VerfasserIn]

    Advanced architectures for FinFETs transistors – processing, device modelling and characterization. ; Architectures avancées des transistors FinFETs: Réalisation, caractérisation et modélisation

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: HAL CCSD, 2006

  11. Philippe, Bart [VerfasserIn]; Reynaert, Patrick [VerfasserIn]

    Mm-wave Circuit Design in 16nm FinFET for 6G Applications - [1st ed. 2023.]

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    Cham: Springer International Publishing, 2023. ; Cham: Imprint: Springer, 2023.

    Erschienen in: Analog Circuits and Signal Processing

  12. Medeiros, G. C. [VerfasserIn]; Fieback, M. [VerfasserIn]; Santos Copetti, Thiago [VerfasserIn]; Gebregiorgis, A. [VerfasserIn]; Taouil, M. [VerfasserIn]; Bolzani Pöhls, Letícia [VerfasserIn]; Hamdioui, S. [VerfasserIn]

    Improving the Detection of Undefined State Faults in FinFET SRAMs

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    Aachen: Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2021

  15. Lackmann Zimpeck, Alexandra [VerfasserIn]

    Circuit-level approaches to mitigate the process variability and soft errors in FinFET logic cells ; Approches au niveau du circuit pour atténuer la variabilité de fabrication et les soft errors dans les cellules logiques FinFET

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: HAL CCSD, 2019

  16. Karel, Amit [VerfasserIn]

    Comparative Study of FinFET and FDSOI Nanometric Technologies Based on Manufacturing Defect Testability ; Etude comparative des technologies nanométriques FinFET et FD-SOI au regard de la testabilité des défauts de fabrication

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: HAL CCSD, 2017

  17. Ramkaj, Athanasios T. [VerfasserIn]; Pelgrom, Marcel J.M [VerfasserIn]; Steyaert, Michiel S. J. [VerfasserIn]; Tavernier, Filip [VerfasserIn]

    Multi-Gigahertz Nyquist Analog-to-Digital Converters : Architecture and Circuit Innovations in Deep-Scaled CMOS and FinFET Technologies - [1st ed. 2023.]

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    Cham: Springer International Publishing, 2023. ; Cham: Imprint: Springer, 2023.

    Erschienen in: Analog Circuits and Signal Processing

  18. Breyer, Evelyn T. [VerfasserIn]; Mulaosmanovic, Halid [VerfasserIn]; Trommer, Jens [VerfasserIn]; Melde, Thomas [VerfasserIn]; Dünkel, Stefan [VerfasserIn]; Trentzsch, Martin [VerfasserIn]; Beyer, Sven [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn]; Slesazeck, Stefan [VerfasserIn]

    Ultra-dense co-integration of FeFETs and CMOS logic enabling very-fine grained Logic-in-Memory

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    Dresden: Technische Universität Dresden, 2022

  20. Kiamehr, S. [VerfasserIn]; Osiecki, T. [VerfasserIn]; Tahoori, M. [VerfasserIn]; Nassif, S. [VerfasserIn]

    Radiation-induced soft error analysis of SRAMs in SOI FinFET technology: A device to circuit approach

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    Association for Computing Machinery, 2014-01-01