Zum Inhalt springen

  1. Amersekera, E. A. [VerfasserIn]; Campbell, D. S. [VerfasserIn]

    Failure mechanisms in semiconductor devices

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Chichester [u.a.]: Wiley, 1987

  2. Majlis, Burhanuddin Yeop [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Shaari, Sahbudin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (4th :2000 :Port Dickson, Negeri Sembilan), IEEE Malaysia Section Electron Devices Chapter, IEEE Electron Devices Society

    2000 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics : proceedings, November 13-15, 2000, Guoman, Port Dickson Resort, Malaysia

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    New York; Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000

  3. Shaari, Sahbudin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (3rd :1998 :Bangi, Selangor), IEEE Malaysia Section Electron Devices Chapter, IEEE Electron Devices Society, Universiti Kebangsaan Malaysia

    ICSE'98 : 1998 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics : proceedings, November 24-26, 1998, Equatorial Hotel, Bangi, Malaysia

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1999

  4. Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Electron Devices Society Taipei Chapter, IEEE Electron Devices Society

    IEEE 22nd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2015 : June 29, 2015 - July 2, 2015, Hsinchu, Taiwan

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Piscataway, NJ: IEEE, 2015

  5. Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Reliability/CPMT/ED Singapore Chapter, IEEE Electron Devices Society

    2014 IEEE 21st International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) : June 30, 2014 - July 4, 2014, Marina Bay Sands, Singapore

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Piscataway, NJ: IEEE, 2014

  6. Wang, Mingxiang [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Institute of Electrical and Electronics Engineers

    2013 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) : 15 - 19 July 2013, Suzhou, China

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Piscataway, NJ: IEEE, 2013